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L’école porte sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique dans un MET. Elle concerne les développements récents associés à l’utilisation de techniques d’acquisition et d’analyse des données avancées telle que la précession en mode tomographie (PEDT), les affinements dynamiques et la cartographie de phase et d’orientation en 4D-STEM . Les méthodes d'analyse de symétrie en faisceau convergent seront également présentées.